Name: Principes fondamentaux et applications de la microscopie à force atomique (in French)
Price: 36.21 USD
Availability: InStock
Author: Solanki, Vanarajsinh ; Dasadiya, Abhay ; Mishra, Pramita
ISBN: 9786204698045

portada Principes fondamentaux et applications de la microscopie à force atomique (in French)

Type

Physical Book

Author

Vanarajsinh Solanki

Abhay Dasadiya

Pramita Mishra

Publisher

Editions Notre Savoir

Language

Francés

Pages

Format

Paperback

Dimensions

22.9 x 15.2 x 0.3 cm

Weight

0.09 kg.

ISBN13

9786204698045

Synopsis "Principes fondamentaux et applications de la microscopie à force atomique (in French)"

Ce livre se concentre sur le principe de fonctionnement de l'AFM, ses différents modes (c'est-à-dire les modes contact, non contact et tapotement), l'analyse de certains résultats AFM et quelques applications également. Ce livre souligne également les caractéristiques de l'AFM en tant qu'outil morphologique très polyvalent et utile pour scanner une grande variété de surfaces, avec une résolution planaire allant du nano -mètre à l'échelle atomique. Nous espérons que ce livre pourra aider les chercheurs et les étudiants à comprendre le concept de base de l'AFM et à l'utiliser pour différents types d'échantillons.

Customers reviews

Have you read this book? Login to add your review.

More customer reviews

0% (0)
0% (0)
0% (0)
0% (0)
0% (0)

Questions and Answers about the Book

Do you have a question about the book? Login to be able to add your own question.

Opinions about Bookdelivery

More customer reviews

Principes fondamentaux et applications de la microscopie à force atomique (in French) - Solanki, Vanarajsinh ; Dasadiya, Abhay ; Mishra, Pramita

Synopsis "Principes fondamentaux et applications de la microscopie à force atomique (in French)"

Customers reviews

Frequently Asked Questions about the Book

Is the book original?

In what language is the book written?

What is the format of this book?

Questions and Answers about the Book

Opinions about Bookdelivery